Lasersystem zur Umgehung des Schutzes von iPhone und Satelliten vorgestellt

Auf dem St. Petersburger Internationalen Wirtschaftsforum wurde der erste inländische Komplex zur Prüfung der Mikroschipsicherheit mittels Laser vorgestellt. Das als LFI-26 (Laser Fault Injection) bezeichnete Gerät wurde von Positive Technologies entwickelt. Unternehmensvertreter betonten, dass solche Geräte zuvor in Russland nicht hergestellt wurden, wodurch Organisationen gezwungen waren, sie von ausländischen Anbietern wie dem französischen ALPhANOV und dem niederländischen Riscure zu kaufen. Laut Ixbt.com berichtet .

Nach Angaben der Entwickler ermöglicht das System das Einführen „kontrollierter Fehler“ in den Chipbetrieb durch gerichtete Laserstrahlung. Diese Technologie dient dazu, die volle Kontrolle über Geräte und Daten zu erlangen und somit Schwachstellen in Schutzsystemen zu identifizieren. Solche Forschungen gelten als wichtiger Schritt in der modernen Cybersicherheit.

Laut Alexey Usanov, Leiter des F&E-Zentrums von Positive Labs, war die Entwicklung eines eigenen Lasersystems ein notwendiger Schritt, um Kompetenzen im Bereich der Hardwaresicherheit zu erhalten, nachdem westliche Anbieter den Markt verlassen hatten. Ohne solche Geräte ist eine vollständige Analyse der Sicherheit ausländischer Chips oder die Bestätigung der Schutzqualität lokaler Komponentenbasen unmöglich.

Der Anwendungsbereich des LFI-26-Geräts ist sehr breit: von Bankkarten und Krypto-Wallets bis hin zu iPhone-Smartphones, Steuergeräten in Fahrzeugen und sogar orbitalen Satelliten. Das neue System ist Teil einer Produktlinie von Geräten zur Erforschung der Mikroelektroniksicherheit geworden.